Modelagem do Tempo de Falha de um Transístor

  • Marcelo Pereira Fernandes Júnior Universidade Federal dos Vales do Jequitinhonha e Mucuri
  • Marcos Henrique Palma Lopes Universidade Federal dos Vales do Jequitinhonha e Mucuri
  • Paulo César de Resende Andrade Instituto de Ciência e Tecnologia - ICT Universidade Federal dos Vales do Jequitinhonha e Mucuri - UFVJM http://orcid.org/0000-0002-7865-8174
Palavras-chave: Confiabilidade. Curva da banheira. Mortalidade senil. Distribuição de Weibull.

Resumo

A aplicação de técnicas de confiabilidade permite descrever o comportamento de falhas em equipamentos. O presente trabalho tem como objetivo modelar o tempo de vida de um transístor por meio da análise de confiabilidade paramétrica. O método de pesquisa utilizado consistiu no estudo de caso, com a coleta dos tempos de falhas de 24 transístores. Métodos gráficos e analíticos foram utilizados, por meio do software ProConf, para verificar que a distribuição que melhor se ajusta aos dados é a distribuição Weibull. As funções de confiabilidade e de risco foram apresentadas. O risco crescente e a confiabilidade decrescente, associados ao fato do parâmetro de forma ser maior que um, indicam um desgaste do equipamento. Isso corresponde ao início da mortalidade senil, fase final de sua vida útil.

Biografia do Autor

Marcelo Pereira Fernandes Júnior, Universidade Federal dos Vales do Jequitinhonha e Mucuri
Graduando em Ciência e Tecnologia pela Universidade Federal dos Vales do Jequitinhonha e Mucuri
Marcos Henrique Palma Lopes, Universidade Federal dos Vales do Jequitinhonha e Mucuri
Graduando em Ciência e Tecnologia pela Universidade Federal dos Vales do Jequitinhonha e Mucuri
Paulo César de Resende Andrade, Instituto de Ciência e Tecnologia - ICT Universidade Federal dos Vales do Jequitinhonha e Mucuri - UFVJM
Professor Adjunto II do Instituto de Ciência e Tecnologia da Universidade Federal dos Vales do Jequitinhonha e Mucuri
Publicado
29-11-2019
Como Citar
Fernandes Júnior, M. P., Lopes, M. H. P., & Andrade, P. C. de R. (2019). Modelagem do Tempo de Falha de um Transístor. Abakós, 7(3), 79-90. https://doi.org/10.5752/P.2316-9451.2019v7n3p79-90
Seção
Artigos completos / Full papers